ortec-online/HPGe輻射探測(cè)器類型和如何進(jìn)行選擇？

更新時(shí)間：2023-08-31

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高純鍺（HPGe）輻射探測(cè)器的分類

ORTEC提供各種HPGe輻射探測(cè)器解決方案，涵蓋了幾百電子伏特（eV）范圍內(nèi)的X射線能量以及10 MeV及以上范圍內(nèi)的伽馬射線能量。這些探測(cè)器使用P型和N型的高純鍺（HPGe）制造而成。這兩類探測(cè)器均使用液氮或機(jī)械冷卻器進(jìn)行低溫冷卻。

如何為您的應(yīng)用選擇合適的HPGe輻射探測(cè)器

為您的特定應(yīng)用選擇正確的探測(cè)器需要考慮許多標(biāo)準(zhǔn)。特定測(cè)量所需的探測(cè)器不能通過(guò)單個(gè)表格或圖表確定。上面的能量范圍圖表和下面的關(guān)鍵屬性表應(yīng)在選擇探測(cè)器時(shí)使用。您可以單擊下表中的探測(cè)器類型鏈接，以獲取有關(guān)該特定探測(cè)器的更多詳細(xì)信息。

ORTEC還有幾種應(yīng)用特定的探測(cè)器，并且具備設(shè)計(jì)和制造專用探測(cè)器的能力。選擇以下鏈接了解更多詳情。

FWHM分辨率（以keV為單位）能量
探測(cè)器系列	典型計(jì)數(shù) 幾何位置	相對(duì)效率范圍（％）	5.9 keV	122 keV	1332 keV
GEM P型同軸	點(diǎn)源大面積源 Marinelli杯	10-150	不適用	0.80-1.30	1.75-2.30
Profile C P型同軸	點(diǎn)源大面積源 Marinelli杯	20-175	0.73-1.23	0.85-1.30	1.80-2.30
Profile M P型同軸	點(diǎn)源大面積源	20-175	不適用	0.88-1.30	1.80-2.20
Profile S P型半平面	點(diǎn)源大面積源	7-65	0.35-0.50	0.65-0.70	1.80-1.90
Profile SP P型半平面	點(diǎn)源大面積源	7-50	0.30-0.43	0.59-0.63	1.80-1.90
Profile F P型半平面	點(diǎn)源大面積源	7-60	不適用	0.65-0.85	1.80-2.10
GMX N型同軸	點(diǎn)源大面積源 Marinelli杯中子本底	10-100	0.60-1.20	不適用	1.80-2.5
GLP P型平面	點(diǎn)源小面積源定時(shí)測(cè)量	不適用	0.17-0.39	0.48-0.60	不適用
GWL P型反向同軸（井）	小體積源井內(nèi)測(cè)量	90-450毫升有效體積（15％-100％相對(duì)效率）	不適用	1.20-1.40	2.10-2.30

應(yīng)用	最合適的探測(cè)器
同步輻射研究；軟X射線研究	GLP
具有復(fù)雜譜的大型環(huán)境樣品	GEM、GEM-F、GEM-M、GEM-C、GEM-S（推薦低本底）
過(guò)濾介質(zhì)、盤(pán)狀或瓶狀的環(huán)境樣品	GEM-F、GEM-C、GEM-S、GEM、GMX
小型環(huán)境樣品	GWL（推薦低本底）
高等級(jí)裂變材料/安全保障	SGD、SGD-GEM
中子活化分析	GMX（推薦附加選件）
事故后監(jiān)測(cè)	GEM（推薦附加選件）
康普頓抑制的伽馬能譜測(cè)量	GMX
海上或空中巡查	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、IDM-200-V
肺部監(jiān)測(cè)	GEM-S、錒系元素-85
測(cè)量射線束或近快速中子場(chǎng)	GMX（推薦使用原位中子損傷退火的專用內(nèi)部加熱器）
廢物分析	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V
貨運(yùn)/邊境安全	Micro-Detective、Detective-EX、Detective-DX、Detective-200、IDM-200-P、IDM-200-V
原位環(huán)境譜分析	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V

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